JEOL Lancio di un nuovo microscopio elettronico a scansione e a emissione di campo (FE) Schottky JSM-F100
发布时间:19-08-04 访问量:2760 来源:海讯社
August 04, 2019 04:00 AM Eastern Daylight Time
TOKYO--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Presidente e Direttore operativo Izumi Oi) annuncia il lancio di un nuovo microscopio elettronico a scansione e a emissione di campo Schottky, JSM-F100 nell’agosto 2019.
Informazioni di base
I microscopi elettronici a scansione (SEM) vengono usati in vari campi: nanotecnologia, metalli, semiconduttori, ceramiche, medicina e biologia. Con l’espansione dell’applicazione, gli utenti SEM hanno bisogno dell’acquisizione veloce di dati di alta qualità e della semplice conferma di informazioni composizionali con attività integrate.
Il JSM-F100 incorpora la nostra pistola elettronica a emissione di campo plus Schottky attraverso la lente molto apprezzata e “Neo Engine” (sistema di controllo ottico elettronico) ed anche un nuovo “Centro SEM” GUI (Interfaccia Utente Grafica) e un “filtro LIVE-AI (Live Image Visual Enhancer-Artificial Intelligence, Amplificatore visivo dell’immagine dal vivo-Intelligenza artificiale)” innovativo.